（来源：上观新闻）
NEO S🍜🕢emico⛈ndu👗🇲🇰ctor 的🕠 X-🌇🐞DRAM🧼 验证芯🇹🇩🌼片实现📦了 1🧸✳0¹⁴🍮🧜♀️ 循环耐♿♐久，读写延迟＜1🦛0ns，👱♀️85℃ 下◻⚽数据保持时间＞🤛1s（IT之💧家注：这🏃一数据是 J👨🦲🎊EDEC 为标准🙎🌘 DRAM 🏺🚟给出的 64ms🙉 的 15 倍）🌳⛏。
所以可以认为🌩这个材料的电✅🦶阻是零🇲🇫。从 2017 年🌒 TPU 🎩v2 🥗起至 🐽2025😆 年 v7 I👨👨👦🎴ronwood，↪🌶整整六代产品🏊♀️👓，谷歌始终采🐱用单颗通用芯🌃片同时承载大模型🇧🇿🚂训练与推理任务🍏。不搞表演、不堆d🦁emo，专🚙攻真正能干🥫👁️🗨️活、能交🙋⚖付的机🥟器人🌹🏳。
